1. Microscopy of materials : modern imaging methods using electron, x-ray and ion beams
المؤلف: Bowen, D. Keith)David Keith(
المکتبة: المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان (کرمان)
موضوع: ، Materials - Microscopy
رده :
TA
418
.
7
.
B6
1975b
2. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
المؤلف: Bowen, D. Keith)David Keith(
المکتبة: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع: ، Semiconductors- Design and construction- Quality control,، Integrated circuits- Measurement,، Semiconductor wafers- Inspection,، X-rays- Diffraction,، Fluroscopy
رده :
TK
7874
.
58
.
B69
2006
